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2021-01-26

早在20世紀(jì)40年代就提出,因?yàn)榫w各向異性能和相鄰自旋磁矩的耦合作用,磁性材料中可能存在不同的磁疇結(jié)構(gòu)。當(dāng)晶體各向異性能量占主導(dǎo)地位時(shí),平凡的磁疇壁(圖1(a))會形成全通量閉合結(jié)構(gòu)(圖1(b)),而當(dāng)相鄰磁矩之間的耦合作用超過各向異性能時(shí),可能出現(xiàn)渦旋或反渦旋狀結(jié)構(gòu),如圖1(c)和圖1(d)。Mermin將這類特殊疇結(jié)構(gòu)定義為拓?fù)淙毕?即序參數(shù)停止連續(xù)變化且具有低維奇異性的區(qū)域。一般來講,鐵磁疇壁可歸類為二維平凡的拓?fù)淙毕?而更為復(fù)雜的通量閉合型、渦旋、反渦旋、中心疇、磁...

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2021-01-26

動態(tài)熱機(jī)械法是在程序控制溫度下,測量物質(zhì)在振動負(fù)荷下的動態(tài)模量和阻尼與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。DMA可用于測量材料變形時(shí)所存儲和消耗的機(jī)械能。例如如果一個(gè)材料收到變形并且接著解除變形,那么一部分貯存的變形能要回復(fù),這是材料的基本特性,即材料產(chǎn)生阻尼振動。對于理想的彈性體,振動的能量是與變形時(shí)加入的能量相等的。而大多數(shù)材料并不顯示出理想的彈性特性,所顯示出的是一種黏彈特性。其一部分變形能是以其他形式能量(如熱能)消耗的,這種能量消耗的趨向越大,由變形引起的振動阻尼也越大。在DMA測...

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2021-01-26

高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。測試應(yīng)用范圍高溫四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合...

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2021-01-25

鐵電存儲器的核心是鐵電存儲單元,我們鐵電存儲器的絕大部分電路都是圍繞著存儲單元來設(shè)計(jì)的。而鐵電存儲器除了存儲單元組成的存儲陣列外,一般還包括以下幾個(gè)模塊:譯碼電路、控制邏輯電路、靈敏放大器模塊、ECC模塊、數(shù)據(jù)通路、地址通路等。下面將結(jié)合圖2-7說明各個(gè)模塊的作用。譯碼電路是任何存儲芯片都必須的一種電路結(jié)構(gòu),它用于將每一個(gè)地址變成One-hot(一位有效)的控制信號來控制存儲單元。由于存儲單元在陣列中呈矩形陣列式排布,必須有一個(gè)譯碼模塊來將存儲單元進(jìn)行定位,目的是讓外部控制邏...

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2021-01-25

隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展以及對新材料的物理和化學(xué)性能研究的迫切需要,熱分析方法取得了很快的進(jìn)展,已相繼研制出測量物質(zhì)各種性質(zhì)的熱分析方法,包括熱機(jī)械分析(TMA)、動態(tài)熱機(jī)械法(DMA)、逸出氣體分析(EGA)、熱光學(xué)法、熱發(fā)聲法、放射熱分析和熱逸出水分分析等。這里簡要介紹熱機(jī)械分析法。許多無機(jī)、有機(jī)和高分子材料的性能往往與它們的熱(或力學(xué))歷史密切相關(guān)。雖然這些材料的形成和加工處理時(shí)的熱性質(zhì)可用DTA和DSC進(jìn)行研究,但是這兩種方法在檢測極為微小的熱變化時(shí)還不夠靈敏。在這種情...

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2021-01-22

具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的氧化物鐵電體(通式為ABO3,其中A,B為金屬離子),是數(shù)量多而且應(yīng)用廣的一種無機(jī)鐵電體[7-8]。如圖1.2所示,鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的特征:以B位金屬陽離子為中心的氧八面體共頂點(diǎn)并相互連接,再鑲嵌在一個(gè)以A位金屬離子為頂點(diǎn)的四方體中。A、B位上的金屬陽離子,可以代表單一離子或多種離子,被單一離子占據(jù)稱為簡單鈣鈦礦,若被多鐘離子占據(jù)則稱為復(fù)合鈣鈦礦。由于占據(jù)A、B位離子的種類及其半徑會有所差異,因此鈣鈦礦氧化物的特征及性能也是各有千秋。人們*早發(fā)現(xiàn)的一種鈣鈦礦鐵電體是...

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2021-01-22

為了能得到j(luò)ing確的數(shù)據(jù),即使對于那些jing確度相當(dāng)高的DSC儀,也必須經(jīng)常進(jìn)行溫度和量熱的校核。接下來我們主要了解一下溫度校正的方法。與DTA一樣,DSC的溫度也是用高純物愛的熔點(diǎn)或相變溫度進(jìn)行校核的。關(guān)于溫度校核標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)可參見表4.1-5。在實(shí)際測量中要獲得jing確度高的溫度值,還必須采取下列措施:①確定熔點(diǎn)的方法。DSC的溫度通常是以高純銦進(jìn)行校核的,其熔點(diǎn)應(yīng)為吸熱峰的前沿切線與基線的相交點(diǎn)Ti,如圖4.1-13所示。其切線斜率為1/R0xdTP/dt(a為試樣盤...

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